MACOM II ®

Magnetfeldkompensation für optimale Störfeldreduktion

Deutliche Reduktion magnetischer Störfelder in Elektronenstrahllithografie und Elektronenmikroskopie durch die aktive Magnetfeldkompensationsanlage MACOM II ®.

Was ist MACOM II ®?

MACOM II ® ist eine aktive Magnetfeldkompensationsanlage, die hochsensible Geräte wie Elektronenmikroskope oder MRT-Scanner zuverlässig vor störenden externen Magnetfeldern (z. B. durch Verkehr oder Stromleitungen) schützt. Im Gegensatz zu aufwändigen passiven Abschirmungen neutralisiert das System Störungen in Echtzeit und schafft so mit geringem Aufwand optimale Bedingungen für präzise Ergebnisse.

Ihre Vorteile

Effektive Störfeldreduktion

Höchste Feldreduktionswirkung bei gleichzeitig extrem niedrigem Rauschniveau – für maximale Präzision in sensiblen Anwendungen

Maximale Effizienz im Betrieb

Individuell konfigurierbar für ein breites Anwendungsspektrum – von Forschung bis Industrie

Flexible Systemlösungen

Magnetfeldkompensation für optimale Störfeldreduktion

Typische Einsatzgebiete

Forschung

Elektronenmikroskopie – Verbesserung der Auflösung durch Reduktion magnetischer Störfelder.

Halbleiterindustrie

Elektronenstrahllithografie – Magnetfeldreduktion für exakte Strukturen im Nanometerbereich

Allgemeine Anwendungen

Anlagen aller Art – stabile Magnetfeldverhältnisse für störungsfreien Betrieb sensibler Systeme

Technische Daten

Feldreduktionswirkung*0,1 Hz bis 1 kHz: 60 dB    
1 kHz bis 5 kHz: 60 dB bis 40 dB
5 kHz bis 100 kHz: 40 dB bis 0 dB
Dynamikbereich> 100 dB
Rauschen (0,1 Hz – 10 kHz)*< 0,2 nTRMS
Langzeitstabilität< 1 nTRMS
Maximales Störfeldca. 10 µT
Ausgangsstrom3 x 3 A
PC-SchnittstelleRS 232, Ethernet
Versorgungsspannung115 V oder 230 V (einstellbar), 50 Hz oder 60 Hz
Bauform19-Zoll (4 HE) – Einschub- oder Tischgehäuse

*Typische Werte am Ort der Sonde

Setzen Sie auf MACOM II ® für stabile Magnetfelder und maximale Präzision in Forschung und Halbleitertechnologie!

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